实验用低温冲击箱/高低温冲击测试试验箱

实验用低温冲击箱/高低温冲击测试试验箱特点：

1．采用进口LCD中英文显示触摸式温湿度控制器，操作简单，程式编辑容易。

2．可显示完整的系统操作状况相关资料、设定程式曲线、开机前注意事项、机器维护保养方法。

3. 运转中发生异常状况，萤幕上即刻自动显示故障原因并提供排除故障方法。

4. 采用多巽式送风机强力送风循环，温度分布均匀。

5．可加装记录器，将温湿度曲线*记录。

6．附R232接口，可电脑连接操作。

实验用低温冲击箱/高低温冲击测试试验箱满足的试验方法有：GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87 405温度冲击试验；GB/T 2423.22-2002温度变化；GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。

内尺寸可选择:：一：宽36*高35*深40cm；二：宽50*高40*深40cm；三：宽60*高50*深50cm；四：宽70*高60*深60cm；五：宽100*高100*深100cm。

温度范围（范围内任选）可以选择，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高温影响价格不大，所以一般默认为150度极限高温。

温度转换时间:10秒以内,温度冲击恢复时间：≤5min。

温度波动度：±0.5℃;温度偏差：±2℃

产品用途　

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。

三箱式：该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。该冲击试验箱的zui大特点是：试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。

售后服务

用户的满意是我们服务的宗旨，完善的售后服务使您解除一切后顾之忧，我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品，更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务：

1.技术培训：操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除

2.定期回访：设备巡检，排除故障隐患，传递消息

3.备品、备件专项储备支持

4.售后服务部提供维修服务的快速响应

5.专职维修人员确保及时、有效地排除故障