半导体冷热冲击试验箱

半导体冷热冲击试验箱简介：冷热冲击试验箱可以独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。可独力当作高温箱或低温箱使用,一机三用。

型号：BY-260D

箱体容积：80升

内箱尺寸：宽*高*深：500×400×400mm

外箱尺寸：宽*高*深：1600×2000×1500mm

箱体制作材料：内箱体箱体采用不锈钢板（SUS#304）,外部材质有种不同外箱材质可供选择:纹路处理不锈钢表面，如经常顺着纹路擦拭，可使机器长时间保持崭新的外观（*此种选择）特殊防锈处理钢板静电喷涂表面，质地高档（依客户要求）。

空气加热方式：优质镍铬金丝电加热器。 

空气循环装置：内置空气间、循环风道及不锈钢长轴通风机，使用高效的制冷机和能量调节系统，通过高效通风机进行有效的热交换，达到实现温度变化之目的。通过出风口可调式风栓的调节，从而大幅改善了试验箱的温度均匀性。

低温循环方式：主要制冷配件及控制器件均采用进口原件，美国SPORLAN热力膨胀阀意大利CASTEI电磁阀；美国RANCO压力控制器，油压控制器，美国PACKLESS避震软管，欧美AC&R汕分离器，意大利CAS截止阀，美国SPORLAN过滤器等。

本设备采用一套进口德国谷轮半密闭式压缩机所组成的二元复叠式水冷制冷系统。复叠式冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器是也到能量传递的作用，将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去，实现隆温的目的。

执行满足标准：

1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；     

2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；     

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；     

4、GJB150.5-86温度冲击试验；     

5、GJB360.7-87温度冲击试验；     

6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。     

7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式      

8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式      

9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化      

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则      

11、GB/T 2423.22-2002温度变化      

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则    

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 

保温材质：聚氨酯硬质PU发泡外加高密度硅酸铝棉填充，保温层厚度可达10cm，箱门与箱体之间采用高张性硅橡胶密封条连接，达到优良的保温效果。

箱体左侧安装一个直径50mm的测试孔，方便用户外接测试线或信号线使用，孔径以及孔数可以依据客户的要求安装（孔径50mm、80mm、100mm任选）

箱门*位置可以按照客户的要求安装透明的玻璃窗口（需要安装可在订货时说明）

冷热冲击试验箱控制器功能：

1）大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然；   

2）具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷；   

3）可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能；   

5）可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；   

6）可设定循环次数及除霜次数，自动(手动)除霜；   

7）控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 

半导体冷热冲击试验箱性能技术参数：

◆冲击温度范围和试验区尺寸可根据客户要求改变，详情请咨询本公司销售代表。

1.高温储热范围：+60℃~+200℃

2.低温储冷范围：-10℃～-55℃（A型） , -10℃～-65 ℃（B型） ,-10℃～-75℃（C型）

3.试验范围：高温：+60℃~+150℃

          低温：-10℃~-40℃（A型）；-10℃~-55℃（B型）；-10~-60℃（C型）

4.升温时间：+60℃~+200℃约需25min

5.降温时间：+20℃~-55℃小于60min；+20℃~-65℃小于75min；+20℃~-75℃小于90min；

6.风门切换时间：小于或等于10S

7.温度恢复时间：5min

8.温度波动：±0.5℃

9.温度偏差：±2℃

10.电源配备：AC  380V（1+10%）V  50+0.5HZ  三相四线+保护地线