半导体芯片高低温测试的优势性能

半导体芯片高低温测试的优势性能

半导体芯片高低温测试的优势性能

　　你知道半导体芯片高低温测试有哪些优势吗？

　　快速温变试验箱是在试验室内用人工方法模拟一种恶劣环境的试验，是研制、开发新产品和检验产品质量性能的环境试验重要设备。检测于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒条件下的适应性试验。可用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用于科研、学校、工厂等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。

　　优势：

  1、仪表采用品牌屏幕画面，荧幕操作简单，程式编辑容易，无需按键输入，屏幕直接触摸选项。

　　2、采用自动化的控制系统。

　　3、风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温湿度回稳时间快。

　　4、快速温变试验箱采用多翼式送风机送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温湿度分布均匀。

　　5、降温、升温、加湿系统*独立可提率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。

　　6、资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机。

　　7、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示。可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能。具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为稳定。

　　该试验箱能够满足有关标准规定的加工生产要求，且使用、维修方便，使用寿命长、造型美观大方，具有良好的用户界面，让用户的操作和监测更加简单和直观。适用于解决试样的快速温度变化问题的快速温变（湿热）试验箱。