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台式X射线荧光光谱仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称马尔文帕纳科
  • 品       牌
  • 型       号Epsilon 4
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2022/4/13 16:28:54
  • 访问次数1089
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2017年1月1日,马尔文仪器(Malvern)和帕纳科(PANalytical)合并,新公司命名为马尔文帕纳科公司,归属于思百吉集团材料分析板块。合并后的公司拥有在业内享有盛名的形态学和X射线分技术,公司的合并将为材料科学、化工、建筑材料、矿业、冶金、制药及生命科学的研究与生产提供更全面的产品解决方案。

使用我们的技术可以测量颗粒粒度、形状和浓度、化学名称、Zeta 电位、蛋白质电荷、分子量、质量和构象、分子间相互作用和稳定性、元素浓度、晶体结构,元素及物相等参数。 这些信息对于预测产品在使用过程中的表现、优化其性能,从而实现高效制造至关重要。

作为思百吉集团成员,马尔文帕纳科(中国)共有8个办事处,总部位于上海,其他办事处包括北京、广州、武汉、沈阳、西安、深圳和成都。




仪器设备,粒度仪,激光粒度仪,X射线衍射仪
产地 进口 产品新旧 全新
借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成,Epsilon 4 是一款多功能台式X射线荧光光谱仪,广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。
台式X射线荧光光谱仪 产品信息

台式X射线荧光光谱仪Epsilon 4 任意位置

由于较低的基础设施要求,可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行,从而降低氦气或真空维护的成本。

超越分析的价值

能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。

将 Omnian 用于无标分析,当需要快速分析鉴定时,则使用 FingerPrint 来进行材料测试,或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。

支持各类样品

Epsilon 4 可处理多种样本类型,包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上,对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析,涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。
Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案,已在许多行业和应用领域中得到广泛应用,甚至在轻元素分析重要的环境中,包括:水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、
制药、保健产品、环保、食品和化妆品。

 

台式X射线荧光光谱仪Epsilon 4特点

灵活的配置

Epsilon 4 是高度灵活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能,并且处于更加具有挑战性的环境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以对碳、氮和氧进行分析。

 

新发展

Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合,提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。

 

迅速、敏感

利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。
探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps(在 50% 的死时间下),和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV,可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行,因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比,实现了更高的样品通量。

 

降低氦气消耗量

Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行,无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时,钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化,确保在各种气候条件下结果不受影响。

 

Epsilon 4 任意位置

由于较低的基础设施要求,可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行,从而降低氦气或真空维护的成本。

 

超越分析的价值

能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。

将 Omnian 用于无标分析,当需要快速分析鉴定时,则使用 FingerPrint 来进行材料测试,或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。

支持各类样品

Epsilon 4 可处理多种样本类型,包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上,对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析,涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。
Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案,已在许多行业和应用领域中得到广泛应用,甚至在轻元素分析重要的环境中,包括:水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、
制药、保健产品、环保、食品和化妆品。

 

特点

灵活的配置

Epsilon 4 是高度灵活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能,并且处于更加具有挑战性的环境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以对碳、氮和氧进行分析。

 

新发展

Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合,提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。

 

迅速、敏感

利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。
探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps(在 50% 的死时间下),和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV,可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行,因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比,实现了更高的样品通量。

 

降低氦气消耗量

Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行,无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时,钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化,确保在各种气候条件下结果不受影响。

 

 

 

关键词:传感器
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