产品特征及优势
特征 | 优势 | 应用 |
CMOS | 光谱覆盖200-1100nm 而且在UV段灵敏度更高 | • 生物医学（比如：DNA检测） |
高速度采集 | 更短时间、更快速度获取光谱 | • 食品筛选与过程监控 |
积分时间*小10μs | ||
缓存和时间戳 | 板载50，000张光谱缓存 | • 细胞中酶反应化学动力学 |
多通讯模式 | 以太网，Wi-Fi，Type-C多通讯模式 | • 远程监控 |
产品参数
光谱范围 | 200-1100nm（可在该范围内进行配置） |
可选配置 | UV-Vis (200-850 nm) w/25 μm slit |
Vis-NIR (350-1000 nm) w/25 μm slit | |
宽光谱范围(200-1025 nm) w/25 μm slit | |
光学分辨率 | 0.8nm(FWHM)，基于配置:600刻线光栅以及5μm狭缝 |
SNR（单次扫描） | ~300:1 |
动态范围（单次扫描） | ~6400:1 |
积分时间 | 10 μs-10 s |
扫描速度（*） | 4500 scans/s* |
热稳定性 | 0.11 pixels/℃ |
狭缝 | 5,10,50,100 或 200μm狭缝 |
| SMA 905 或 FC |
更多应用方案
· LIBS 光谱：
LIBS系统中，激光器用来激发样品产生等离子体，光谱仪获取的原子发射谱线可以判定样品的物质组成成分。由于等离子体的生命周期很短，激光激发样品的时间也很短，所以需要使用更短积分时间的光谱仪来收集等离子体的主要光谱信息。
· 快速测量：
快速获取的光谱可以观炮火等的特征信息，包括组成和温度信息等。通过同步触发，可以监测同一反应或者同一物质不同时间的不同信息。.
· 生产线在线监测：
对在线生产中的产品或者整个生产过程进行监控，由于整个过程非常迅速，另外可检测点又是特定的，所以检测仪器就需要极快的光谱的响应时间。生产过程中进行同步测量非常有利于对整个过程进行实时监控。
· LED 分选:
LEDs在生产过程中通过CWL，FWHM，或者CIE颜色值差异进行分选，整个分选过程速度非常快，而颜色作为白光LED分选的主要判断指标，另外还因为白光LED的ΔE值也相对比较小，所以就需要检测的设备有更高的灵敏度和更短的时间获得更稳定的光谱数据。
· 激光：
尽管使用光谱仪对激光进行检测很大可能出现饱和现象，但是我们还是要检测激光指标CWL和FWHM。如果需要检测FWHM，必须要确保光谱仪的分辨率要低于激光的FWHM。即使光谱仪的分辨率宽于待检测的激光线宽，只要检测器不饱和，CWL的值还是准确的。
· 光发射光谱 (OES)：
发射光谱测试一般会用在科研、环境监测等领域，被检测的样品一般被气化并表现为原子形式，这些离子化的原子产生的发射谱线可以用来表征物质成分。我们的OEM客户使用该方法对水中的痕量金属进行检测，同时也有其他客户使用该方法对工业用油进行检测。
· 等离子体监控：
等离子体的发射谱线可以用来评估等离子体的状态或者消亡过程。
· 激光焊接/沉积：
可以通过等离子体的发射谱线对激光焊接/沉积过程中的温度及其他参数，从而监控整个焊接过程。
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