X-RAY荧光镀层测厚仪

X-RAY荧光镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了*基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有：

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄杜策，例如：装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 全自动测量，如测量印刷线路板

• 分析电镀溶液
  

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。
XDL 210 型的工作台为固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统。

XDL 220 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统。

XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。

XDL系列仪器可选配圆形或长方形准直器，采用比例接收器，测量距离为0-80mm，使用保护的DCM测量距离补偿法。

使用高分辨率的CCD彩色摄像头

仪器重量100kg-120kg

仪器使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度为≤95%，无结露

计算机要求：带扩展卡的计算机系统

可按要求，提供额外的XDL型产品更改和XDL仪器技术咨询