原子力显微镜（Atomic force microscopy）是一种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。一般原子力显微镜利用探针对样品扫描，探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光，最后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。
计算机全数字化控制，操作简捷直观。
步进马达自动进行针尖--样品逼近，保证实验圆满成功。
深度陡度测量，三维显示。
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。
Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡
样品观测范围从0.001um-20000um。
扫描速度达40000点/秒
可选配纳米刻蚀功能模块。
轻敲式原子力显微镜-NanoFirst-3000技术指标:
AFM探头
样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY扫描范围：标准6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(轻敲模式)；0.25nm（AFM模式）
Ｚ向分辨率：0.05nm(轻敲式,DNA定标)；0.03nm（AFM云母定标）
XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米
步进马达自动进行针尖-样品逼近
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)
AFM电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配）
全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购
轻敲式原子力显微镜-NanoFirst-3000电子学控制器:
| XYZ控制 | 18-Bit D/A |
| 数据采样 | 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 |
| Z向反馈 | DSP数字反馈 |
| 反馈采样速率 | |
| 高压放大器 | 集成高压运算放大器，电压范围+/-150V |
| 频率范围 | 20K-1000KHz |
| 幅度范围 | 0-10.0V |
| 扫描速率 | >40000点/秒 |
| 扫描角度 | 0-360度 |
| 扫描偏移 | 任意 |
| 图像采样点 | 256X256或512X512 |
| 步进马达控制 | 手动和自动进退 |
| 计算机接口 | 标准RS232串行/USB |
采购中心
