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表面粗糙度·轮廓测量仪SV-C3200/C4500

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海洛丰精密检测仪器有限公司
  • 品       牌
  • 型       号SV-C3200/SV-C4500
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/5/8 13:11:29
  • 访问次数323
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上海洛丰精密检测仪器有限公司自2013年成立以来,通过与世界各仪器(如德国ZEISS,美国ZYGO干涉仪,美国菲思图硬度计,三丰量具量仪,英国泰勒检测仪,德国菲希尔测厚仪等)公司的良好合作,以及自身良好的经营理念,服务质量,已成为国内优质的检测仪器供应商.我们秉承为客户提供良好检测仪器的宗旨,已经为中船重工,航空航天,高校(东南大学、浙江工业大学、南京理工大学等),研究所(上海615研究所、上海811研究所、中航614所等)外企(德尔福、辉门、西门子、博世等)及民营企业(华为、瑞声集团、立讯集团、水晶光电等)提供了大量高附加值的精密检测仪器及*的检测方案.公司拥有一支专业的销售及服务团队,可以为不同客户提供各类精密检测产品的技术咨询,设备改造,维修维护,培训校准等技术服务.洛丰始终以"客户至上,诚信为本"的企业精神,愿意与各行各业的用户进行广泛的交流与合作,共同进步,共同发展。
视频显微镜
表面粗糙度测量功能高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。X轴内置高精度玻璃光栅尺,直接读取X轴移动距离,在高精度精准定位下,完成间距参数的评价。检出器测力有4mN和0.75mN可选。轮廓测量功能Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新
表面粗糙度·轮廓测量仪SV-C3200/C4500 产品信息

规格:

货号

SV-C3200S4

SV-C3200H4

SV-C3200W4

SV-C3200S8

SV-C3200H8

SV-C3200W8

 

SV-C4500S4

SV-C4500H4

SV-C4500W4

SV-C4500S8

SV-C4500H8

SV-C4500W8

 

测量表面粗糙度时

 

测量范围

X(驱动部)

100mm

200mm

 

Z1(检出器)

800μm/80μm/8μm

 

直线度

(0.05+L/1000)μm L:驱动长度(mm

0.5μm/200mm

 

分辨力

Z1(检出器)

0.01μm ( 800μm ) , 0.001μm ( 80μm ) , 0.0001μm ( 8μm

 

测力

0.75mN  ( 机身代码末尾带 "-1" 的型号 )

 

4mN  (机身代码末尾带 "-2" 的型号)

 

测针针尖形状

60o, 2μmR  ( 机身代码末尾带 "-1" 的型号 )

 

90o, 5μmR  ( 机身代码末尾带 "-2" 的型号 )

 

对应尺寸

JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA

 

评价参数

Pa,Pq,Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,Pc,Ra,Rq,Rsk,Rku,Rp,Rv,Rz,

 

Rt,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,Rc,Wa,Wq,Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq,

 

Wmr(C),Wmr,Wc,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,Wx,AW,W,Wte,Ry,RyDIN,

 

RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,Ir,a,a,q,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW

 

评价轮廓

原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、包络残余线、 DF  轮廓 ( DIN4776 / ISO13565-1 ) 、表面粗糙度 MOTIF(包络波纹轮廓在评价 MOTIF 时显示)

 
 

分析图

负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、 Walsh  功率谱、 Walsh  自相关、分布、倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析)

 
 

曲线补偿

最小平方直线、面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿、多项式补偿 ( 自动或任意 2~7  ) 、无补偿

 
 

曲线补偿

高斯滤波器 , 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50,  鲁棒样条滤波器

 

?  轮廓测量

 

测量范围

X(驱动部)

100mm

200mm

 

Z1(检出器)

60mm  ( 测臂水平位置 ±30mm

 

直线度

0.8μm/100mm

2μm/200mm

 

精度

X(驱动部)

 

Z1(检出器)

SV-C3200系列:±(1.6+|2H|/100)μm,SV-C4500系列:±(0.8+|2H|/100)μm

 

H:  水平位置上的测量高度 ( mm )

 

分辨力

X(驱动部)

0.05 μm

 

Z1(检出器)

SV-C3200  系列 : 0.04μm, SV-C4500  系列 : 0.02μm

 

Z2(立柱)

1 μm

 

测力

SV-C3200  系列 : 30mN  ( 可调使用重量 )

 

SV-C4500  系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN  ( 根据软件转换 )

 

测头方向

SV-C3200  系列垂直方向 ( 向上向下单独测量 )

 

SV-C4500  系列垂直方向 ( 向上向根据配重调整 )

 

?  通用时

 

Z2(立柱)移动量

300mm

500mm

300mm

500mm

 

X 轴倾斜角度

±45o

 

驱动速度

X

0 - 80mm/s  外加手动

 

Z2(立柱)

0 - 30mm/s  外加手动

 

测量速度

0.02 - 5mm/s

 

 

注 : 虽然天然石材测量桌的外观各有不同,但材料的稳定性是值得信赖的。

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