半导体快速恒温恒湿箱

半导体快速恒温恒湿箱用于电工、电子产品、元器件、零部件及其材料进行高温、低温、或高低温渐变的试验，还可以对电子元器件及产品进行应力筛选试验；适用于：电工、电子产品、元器件等。

半导体快速恒温恒湿箱技术参数：

内箱容积有：810升、100升、50升、 225升、416升、800升、1000升（还可以定制非标尺寸及升降温速度）

温变率：有5℃/min、3℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min （有线性或非线性可选择）

温度范围：-40℃～+150℃(温变范围-40~+20℃)

湿度范围：20 %～98 % RH(分布范围如下图，满足一般型）注：满足做25℃，20%湿度的低湿条件

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：±2.0℃

工作噪音：A声级≤75dB(A)   (在环境温度25℃，回声少的隔音室内测得；采用A计权，测试8个点的平均值；各测试点水平离噪音源1米、高度离地面1米)。

其他：增加三路温度探头，实时采集产品温度

测试环境条件：机器周围环境温度维持在+5~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。

满足标准：·GB/T10589-2008低温试验箱技术条件；·GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件；·GB2423.1-2008低温试验Aa , Ab；·MIL-STD810D方法502.2；·GB/T2423.4-2008（MIL-STD810）方法507.2程序3；·GJB 150.9-8温热试验