本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和*的四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
侧板:
GM-X03
GM-X03侧板
产品特点:
1.采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试,确保仪器具有可靠的质量和*的性能。
2.高稳定性。
3.操作简便,实用性强
基本参数
计量单位: | 台 同参数产品 |
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测量范围: | 5ma-500ma 同参数产品 |
类型: | 薄膜测厚仪 同参数产品 |
显示方式: | 指针,数显 同参数产品 |
品牌: | LXVTC 同参数产品 |
型号: | GM-X03 同参数产品 |
加工定制: | 是 同参数产品 |
测定对象: | 镀膜膜厚 |