镀层测厚仪

仪器介绍：

JT-607C镀层测厚仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。是一款拥有多种准直器（0.05mm、0.1mm、0.2mm、0.5mm）自动切换的高精密度X射线荧光光谱测厚仪。适合小面积电镀层、重复镀层、凹凸不平样品测试。

仪器特点：

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，可测量各微小的部件

最小测量面积达0. 002mm²

2) 拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm

3) 核心EFP算法，可对多层元素，包括同种元素在不同层都可快·准·稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测层Ni和第三层Ni的厚度）

4) 配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位，多样品的精准位移和同时检测

5) 可同时分析23个镀层，24中元素，测量元素范围：氯CL  (17) ---铀U （92），涂镀层分析范围：氯CL (17)/锂Li---铀U (92),涂镀层检出限：0.005μm

6) 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

7) 标配为两个准直器任意选择一种，最小测量面积可达0.002mm²

8) 配有微光聚焦技术，最近测距光斑扩散度小于10%

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