DZZ-302/302BD半导体精密测量显微镜
DZZ-302/302BD半导体精密测量显微镜适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
观察系统:
三目观察镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,30°倾斜,操作时不需要长时间低头或平视观察,使操作者的劲与肩部得到有效释放,摄影时可99%通光,适合低照度显微图像拍摄。平场广角目镜视场数可达φ22mm,使目视观察更为广阔、舒适。
机械式载物台:
大行程机械移动载物平台,适合于大试样显微观察或多试样快速检测。
尺寸:280mm*270mm
移动范围:204mm*204mm
落射照明系统:
内置视场光阑、孔径光阑、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器,卤素灯,亮度可调
观察系统:
三目观察镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,30°倾斜,操作时不需要长时间低头或平视观察,使操作者的劲与肩部得到有效释放,摄影时可99%通光,适合低照度显微图像拍摄。平场广角目镜视场数可达φ22mm,使目视观察更为广阔、舒适。
机械式载物台:
大行程机械移动载物平台,适合于大试样显微观察或多试样快速检测。
尺寸:280mm*270mm
移动范围:204mm*204mm
落射照明系统:
内置视场光阑、孔径光阑、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器,卤素灯,亮度可调