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E4991A射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
测试功能灵活
20 Hz 至2 MHz 的测试频率，任何频率时的4 位分辨率
16 种阻抗参数
100 μV 至2 Vrms 和1 μA 至20 mA的可变测试信号
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
自动电平控制
201 点的可编程列表扫描
选件E4980A-001, 提高功率和DC 偏置
0 至20 Vrms/100 mArms的测试信号
内置40 V DC 偏置，0.3mV分辨率
内置10 V DC 源
直流电阻、电流、电压测试
选件E4890A-002, 偏置电流接口和42841A 偏置电流源
DC电流偏置：
0.01A 至20A（带42841A 和42842A 时）
0.02A 至40A（带2个42841A，42842B和42843A时）
六种方便的显示方式
根据您的特定测量需要，选择六种显示方式中的一种方式。
正常显示方式，观看测试数据的各个方面
放大显示方式，让读数更加容易
显示料仓号，比较测试结果并对器件进行分类
显示料仓计数，用于统计和评定
显示列表扫描，观看连续的测试数据
空屏显示，在测试速度时关闭显示器，节省屏幕刷新时间
稳定的小ESR/ 低阻抗测量
为满足高速和低功耗电路的需要，电容器的等效串联电阻(ESR)正变得越来越小，而这是难以测量的。E4890A在这方面的测试性能具有高的稳定性。
高阻抗测量
片状电容器和半导体晶片的电容值现已达到飞法(fF)级范围。为得到更高的产出率和设计可靠性，将需要非常稳定和的高阻抗测量。E4980A 在这方面的性能超越了Agilent 早期已成为工业标准的LCR表(4284A)，把对小电容器件测试的稳定性进一步提高了。
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