PCT高压加速老化试验箱
产品用途
测试密封之耐湿气能力,待产品被置于严苛的温度、湿度及压力测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架接口渗入封装体,常见的故障方式为主动金属化区腐蚀成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC , LCD ,磁性材料等产品之密封性检测,目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快实验过程,缩短产品或系统的寿命实验时间。
结构特点
微电脑饱和蒸汽温度+时间+压力显示独立控制器
真空干燥设计,确保测彫定,真实环境再现性
内胆采用圆弧设计,符合国家安全容器标准
采用全自动补充水位功能,实验中断
免费量身定制专用产品架
PCT高压加速老化试验箱--规格与技术参数