蔡司LSM 900材料用于高级成像和表面形貌的多功能共聚焦显微镜
蔡司LSM 900，来自蔡司的共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)，是您进行材料分析所需的一种仪器。在您的实验室或多用户设施中表征3D微结构表面形貌。结合所有必要的光学显微镜对比技术的材料与高精度地形。由于不需要更换显微镜，节省了安装时间。评估表面粗糙度时，执行非接触共聚焦成像。LSM 900是多用户设施的理想工具。伸出你的直立光学显微镜，蔡司Axio成像仪。Z2m或您的倒置光学显微镜蔡司Axio观察者7，与共聚焦扫描模块。
结合光学显微镜和共聚焦成像
有效地调查你的样本
扩大你的成像范围
蔡司显微镜LSM 900激光共聚焦显微镜(CLSM)是一台用于材料分析的仪器，可在实验室或多用户设施中表征三维微观结构和表面形貌。LSM 900可对纳米材料、金属、聚合物和半导体进行精确的三维成像和分析。将蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自动光学显微镜或蔡司Axio Observer 7倒置式显微镜装上LSM 900共聚焦扫描头，同时具有所有的光学显微镜观察模式，以及高精度的共聚焦表面三维成像模式，您可轻松将所有功能集于一身。这些功能的使用无需切换显微镜，您将可以进行原位观察，节省大量的时间。自动化也会给您的数据采集和后期处理带来诸多便利。另外，LSM 900具有非接触式共聚焦成像的优势，例如表面粗糙度的评估。
特点：
结合光学显微和共聚焦成像
LSM共聚焦平台LSM 900专为2D和3D的严苛材料应用而开发。
您可以用非接触式共聚焦成像来表征样品的形貌特征和评估表面粗糙度
以无损方式确定涂层和薄膜的厚度
您可以运用各种成像方式，包括在光学观察方式或共聚焦模式下的偏光与荧光显微成像
在反射光下表征金相样品，在透射光下表征岩石或聚合物薄片样品。
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