X-Strata960X荧光镀层测厚仪

X-Strata960(X荧光镀层测厚仪)基于多年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，CMI960引进全新的设计：
1.新100瓦X射线管
市场上所能提供的zui强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
2.更小的X射线光斑尺寸
新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
3.距离独立测量（DIM）
更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控4.制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
5.自动镭射聚焦
自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
5.全新的大型样品室
更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
6.3种样品台选项
XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
7.内置PC用户界面

X-Strata960(X荧光镀层测厚仪)技术参数

● X射线激发和检测：
牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
高分辨封气(Xe)正比计数器可获取zui高的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现*的检出效果
● 数字脉冲处理：
4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取zui高的信号采集(每秒计数量)，从而保证的测量统计结果
● 手动或自动透镜控制：
手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的*分析聚焦距离
● 自由距离测定：
简化系统设置和维护
在聚焦距离范围内仅需要一个校正
对不规则样品更灵活的测量
在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点
通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离
● 附带自动透镜功能的自动激光聚焦 *的、自动样品摆放系统
激光扫描单键启动
消除样品碰击Z轴的机会
改善DIM的聚焦过程
● 标准激光聚焦：
标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
Z轴聚焦扫描单键启动
改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
● 微小准直器：
仪器至少装备一个客户规格的准直器以*化测量，并提高测量效率
备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用
多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
● 大样品室设计：
方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
标准配置自动化Z轴：zui大高度230mm
● 集成化计算机：
工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
减少整机占用空间
USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
● 其他硬件特点：
CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证*的仪器稳定性
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器*的稳定性
坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
一体化工作站设计实现*的人机工程学