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显微分光膜厚仪 OPTM series
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2024-10-14 12:05:03
337
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苏州市
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图片描述:
测量项目:[膜厚、折射率n、消光系数k].测量原理:[分光干涉法].测量对象:[光刻胶、SiO2、Si3N4等].测量范围:[1nm~92μm]....
图片来源:
https://www.zyzhan.com/chanpin/4478941.html
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