2025-05-13 14:39:29290
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微波器件高加速寿命偏压老化测试系统HAST，微波器件高加速寿命偏压老化测试系统是一种用于评估微波器件在很差条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、
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