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电子分析天平
BM-300超微量分析天平
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2023-01-28 09:25:26
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其他
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图片描述:
日本AND公司在2011年*新在国际市场上推出的精度达1μg,有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。
图片来源:
https://www.zyzhan.com/chanpin/3675576.html
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