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应用范围：根据GB/T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产了FN-II型降落值仪。它是测定谷物中活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，
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