2025-05-13 07:32:0325
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AS-HTRB-F16AS-HTRB系列高温反偏测试系统用于评估封装工艺的稳定性，加速缺陷失效率，剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。适用于各种封装形式的Si/SiC/GaN材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT
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