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晶体管参数测试仪系统
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2024-04-29 16:26:09
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STD2000
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西安市
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图片描述:
陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体分立器件参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多电子元器件的静态直流参数和IV曲线(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICE
图片来源:
https://www.zyzhan.com/chanpin/4199158.html
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