2024-06-19 07:56:35261
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- 厂商性质:其他
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- 所在地区:上海市
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产品介绍微型采样方法(已在日本和美国取得)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于STEM分析，其定位精度可达到0.1µm以下。
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