2024-12-06 09:59:22212
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- 厂商性质:经销商
- 品牌:川一仪器
- 所在地区:长春市
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产品简介NanoCalc薄膜反射光谱仪系统薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250μm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。
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