2024-08-17 10:35:10193
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涂镀层测厚仪XDV-;是专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜，光斑直径（FWHM）可达10至60#181;m。短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了通用
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