深圳市蓝星宇电子科技有限公司

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2021-07-19 21:07:24200
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激光椭偏仪SE400adv,激光椭偏仪SE400adv测量透明薄膜的厚度和折射率指数,具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪SE400adv表征吸收膜特征。

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