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详细介绍
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通过分析光如何从薄膜反射来测量薄膜厚度。通过分析肉眼看不见的光谱我们能测量几乎所有超过100原子厚度的非金属薄膜。因为不涉及任何移动设备，几秒钟之内就能测出：薄膜厚度，折射率，甚至粗燥度！为工业界的精英们测量薄膜厚度。 在低价位膜厚测量应用上我们的测量系统有的占有率。 事实上我们Filmetrics是能够提供满足几乎所有膜厚测量需求的产品。
应用领域
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| 苏州倍瑟电子科技有限公司 |
| 参考价 | 面议 |
更新时间：2023-08-22 09:58:24浏览次数：723
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通过分析光如何从薄膜反射来测量薄膜厚度。通过分析肉眼看不见的光谱我们能测量几乎所有超过100原子厚度的非金属薄膜。因为不涉及任何移动设备，几秒钟之内就能测出：薄膜厚度，折射率，甚至粗燥度！
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