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蔡司Xradia 515 Versa 激光粒度仪

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更新时间:2023-11-21 09:21:04浏览次数:404

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产品简介

产品简介:蔡司 Xradia 515 Versa具有突破性的灵活3D亚微米成像系统蔡司X射线显微镜 Xradia 515 Versa 突破3D成像和原位/ 4D研究的微米级分辨率的成像壁垒。其高分辨率、高衬度以及灵活的工作距离下成像能力的组合,拓展了实验室无损成像能力。蔡司 Xradia 515 Versa 得益于两级放大的架构,可实现大工作距离下亚......

详细介绍

  1. 优势:


    即使在距射线源较大的工作距离(从毫米到厘米)下,也能实现多功能性。

    √  *的吸收衬度和创新的相位衬度,可实现对软材料或低原子序数材料3D成像

    √  突破基于投影的微米CT的技术限制,在灵活的工作距离上实现优异的高分辨率

    √  多种样品尺寸下解析亚微米级特征

    √  4D / 原位解决方案拓展了实验室无损成像能力

    √  随时间推移,在一定环境条件下研究材料变化

    √  在保证图像质量条件下的高通量


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