激光器寿命测试设备 返回列表页

产品简介

普赛斯多路大功率激光器老化系统是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗扰能力强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案，

器件装载使用抽屉式结构，设备可以灵活扩展Z高至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器的串联老化。 普赛斯多路大功率激光器老化系统采用全新开发、自主设计的大电流脉冲恒流源，可以兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。该系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲驱动电源、收光装置、光纤、光谱仪（选配）、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机等。实现上位机程序进行自动测试，自动采集半导体激光器驱动电流、激光器电压、激光器光功率、环境温度。实现多单元、高效率、自动监控并记录上传测试数据的一体化测试系统。激光器寿命测试设备详情上普赛斯仪表咨询               

设备特点

单抽屉最多支持16路8抽屉；

各通道互相独立；

电流回读，同步自动测量电压、光功率等数据；

加热膜加热，温控范围：室温～125℃；

电源抗浪涌设计；

收光装置水冷；

J对精度±1℃，不同DUT温度均匀性±2℃；

老化数据自动记录与数据导出；

产品应用

大功率LED的LIV测试及产线批量老化

大功率激光器的LIV测试及产线批量老化

大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的稳定性及可靠性测试

普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验B备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富;更多有关激光器寿命测试设备详情上普赛斯仪表咨询