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当前位置：上海梓梦科技有限公司>>粒度分析设备>>晶体出现率分析仪>> ZMP960晶体出现率分析仪
| 产地 | 国产 | 产品新旧 | 全新 |
|---|---|---|---|
| 自动化程度 | 全自动 |
ZMP9 60 晶体出现率分析仪是工作原理是通过专用高分辨率 CCD 线性传感器和显微光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离及颗粒边界搜索算法，将目标颗粒与背景分离，分析出各种测量参数，并通过显示器和打印机输出。
晶体出现率分析仪具有超大测量范围及高分辨率，同时具有直观、可视、准确、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色 的新型颗粒分析仪器。
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