BHAST温湿度偏压高加速应力测试 HAST试验箱 返回列表页

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BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱

BHAST温湿度偏压高加速应力测试，bHAST温湿度偏压高加速应力测试（Bias Highly Accelerated Stress Test）bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性（参考与执行试验标准:JESD22-A110）。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀，看芯片的工作状态。施加电压的原则如下：测试芯片所有供电要接上，处于工作状态下的最小功耗。

BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱

测试时间

通常会去做130摄氏度的测试，时间比较快，测试结果也可以得到认可。芯片测试数量为：（3个Lot，每个lot最少25颗）

BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱

带电压拉偏 ，遵循得原则：

（1） 所有电源上电，电压：推荐操作范围电压（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材料功耗最小（数字部分不翻转、输入晶振短接、其他降功耗方法）

（3） 输入管脚在输入电压允许范围内拉高。
（4） 其他管脚，如时钟端、复位端、输出管脚在输出范围内随机拉高或者拉低