HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱 返回列表页

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HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱

评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。

HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱

特点

·高机能：采用驱动计测， 测试时焊接工序大幅减少

·软件设计简单明了，直观易操作

·远程监控功能，可监控试验过程。

·便利性高：构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能，系统构成灵活。

·测试自检功能：点检、校正方便。

·设计精巧，不受场所限制，易移动。

·可靠性高：配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，确保试验的安全继续进行。

HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱

用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度（偏压）高加速应力寿命老化试验。

应用领域： PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片

HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱

技术规格

类型 500V *1 1000V

通道数 32通道/64通（可选）

工作时间 1~9999小时

偏置电压 -100~+500VDC -100~+1000VDC

记性反转 具备

共负极测试（可选） 具备

CAF测试（可选） 具备

测试电压 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-500VDC (0.1V 步进) 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-1000VDC (0.1V 步进)