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X系列熔点测定仪

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更新时间:2022-06-26 11:22:54浏览次数:315

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产品简介

X系列熔点测定仪

详细介绍

X 系列熔点测定仪

 

 

测温方式

温度传感器

测量误差

全量程±1度

工作方式

温度值LED

式样用量

<1mg/次

数显

显微镜

体视

PID自动控温,可设升降温速率

放大倍率

20X,40X

测量范围

室温-320℃

视场直径

10mm-5mm

精确度

0.1℃

工作距离

105mm

仪器配置

控制箱,加热测温台,载玻片,两档体视显微镜,镊子

 

 

测温方式

温度传感器

测量误差

全量程±1度

工作方式

温度值LED数显

式样用量

<1mg/次

设定上下限报警

显微镜

体视

PID自动控温,可设升降温速率

放大倍率

7-45X

测量范围

室温-320℃

视场直径

10mm-5mm

精确度

0.1℃

工作距离

105mm

仪器配置

控制箱,加热测温台,温度传感器,载玻片,连续变倍体视显微镜(配环形荧光灯),镊子

 

测温方式

温度传感器

测量误差

全量程±1度

工作方式

温度值LED数显

式样用量

<1mg/次

自动打印

显微镜

体视

PID自动控温,可设升降温速率

放大倍率

7-90X

测量范围

室温-320℃

视场直径

10mm-5mm

精确度

0.1℃

工作距离

105mm

仪器配置

控制箱,加热测温台,载玻片,连续变倍体视显微镜(环形荧光灯),镊子

技术支持:上海绘统光学仪器有限公司

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