详细摘要： 产品概述科研级暗场金相显微镜XJ-51BD适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂...

详细摘要： 产品概述三目暗场金相显微镜XJ-55BD适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的...

详细摘要： 产品概述科研级暗场金相显微镜XJ-52BD适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂...

详细摘要： 产品概述科研级明暗场正置金相显微镜XJ-58C适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、...