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科研级明暗场正置金相显微镜XJ-54C用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50X-500X
◆性能特点：
1、采用了无限远光路设计
2、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置，拓展了功能。
3、系统配置了大尺寸、大范围移动载物台，适合大工件的检查。
4、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜，视场平坦,成像清晰。
5、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。
6、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。
◆典型应用：
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验。
2、观察材料表面的某些特性，3、分析金属、矿相内部结构组织。
详细介绍
产品概述
规格参数
一、显微镜参数：
| 序号 | 名称 | 技术参数 |
| 01 | 平场目镜 | 大视野WF10XΦ25mm |
| 02 | 明暗场平场物镜 | 无限远 PLL5X/0.10、 PLL10X/0.25、 PLL20X/0.40、PLL40X/0.60、 PLL50×/0.55 |
| 03 | 总放大倍数 | 50X-500X |
| 04 | 观察头 | 铰链式三目 30°倾斜 |
| 05 | 转换器 | 五孔带DIC、明暗场插孔 |
| 06 | 粗调调焦范围 | 30mm,粗微动同轴调焦，带锁紧和限位， 微动格值0.002mm |
| 07 | 载物台 | 双层移动平台 尺寸350X310mm 移动范围: 250X250mm 玻璃平台：尺寸268×198mm 移动范围：250×250mm 具有快速手推功能，可实现快速到位 |
| 08 | 偏光装置 | 检偏镜可360°转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路 |
| 09 | 暗场装置 | DIC、暗场插件均可移出光路 |
| 10 | 落射照明系统 | 卤钨灯12V100W 宽电压AC 85-230输入。落射照明器带视场光栏、孔径光栏 |
| 11 | 仪器重量 | 净重35.0公斤 毛重40kg |
| 12 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸40X50X47（cm） 包装尺寸59X49X53 (cm) |
二、目镜参数：
| 型号 T ype | 放大倍率 Magnification | 视场直径(mm) F.O.V | 外径(mm) Tube diameter |
| WF10X/25 | 10X | Φ25 | Φ30.2 |
三、物镜参数：
| 放大倍率 Magnification | 数值孔径 N.A | 分辨率 R(μm) | 工作距离WD(mm) | 共轭距离Conjugate(mm) | 齐焦距离Parfocus(mm) | 盖玻片厚度CoverGlass(mm) |
| 5X | 0.12 | 2.30 | 29.4 | ∞ | 45 | 0 |
| 10X | 0.25 | 1.10 | 16.0 | ∞ | 45 | 0 |
| 20X | 0.40 | 0.70 | 8.80 | ∞ | 45 | 0 |
| 40X | 0.60 | 0.55 | 5.40 | ∞ | 45 | 0 |
| 50X | 0.55 | 0.40 | 5.10 | ∞ | 45 | 0 |
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