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科研级三目正置金相显微镜XJ-52C适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，电子芯片的检查或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。总放大倍数：50X-800X
◆性能特点：
1、系统配置了大尺寸、大范围移动载物台，适合大工件的检查。
2、采用大视野目镜和长距平场物镜，视场宽阔、平坦,成像清晰。
3、采用“T”型防振结构设计，机械载物台可慢速或快速移动试样。
4、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。
5、配置了偏光装置并可选配暗场、微分干涉装置，拓展了功能。。
6、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。
◆典型应用：
1、分析金属、矿相内部结构组织。2、电子厂PCB板、芯片检验。
3、观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性。
详细介绍
产品概述
规格参数
一、显微镜参数：
| 序号 | 名称 | 技术参数 |
| 01 | 平场目镜 | 大视野 WF10X(Φ18mm) |
| 02 | 长距平场物镜 | PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80 |
| 03 | 总放大倍数 | 50X-800X |
| 04 | 观察头 | 三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换) |
| 05 | 转换器 | 五孔 (外向式滚珠内定位) |
| 06 | 粗微调调焦范围 | 粗微动同轴调焦, 微动格值0.7μm, 粗动松紧可调,带锁紧和限位装置 |
| 07 | 载物台 | 三层机械移动式尺寸: 250mmX230mm,移动范围: 154mmX154mm |
| 08 | 光瞳距离 | 53-75mm |
| 09 | 滤色片 | 蓝、磨砂 |
| 10 | 落射照明系统 | 6V 20W卤素灯,亮度可调 |
| 带视场光栏、孔径光栏、起偏振片,(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃 | ||
| 11 | 仪器重量 | 净重11.0公斤 毛重12.5公斤 |
| 12 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸42X45X45（cm） 包装尺寸45X50X50(cm) |
二、目镜参数：
| 型号 T ype | 放大倍率 Magnification | 视场直径(mm) F.O.V | 外径(mm) Tube diameter |
| WF10X/18 | 10X | Φ18 | Φ23.2 |
三、物镜参数：
| 放大倍率 Magnification | 数值孔径 N.A | 分辨率 R(μm) | 工作距离WD(mm) | 共轭距离Conjugate(mm) | 齐焦距离Parfocus(mm) | 盖玻片厚度CoverGlass(mm) |
| 5X | 0.12 | 2.30 | 26.1 | 195 | 45 | 无 |
| 10X | 0.25 | 1.10 | 8.80 | 195 | 45 | 无 |
| 20X | 0.40 | 0.70 | 8.60 | 195 | 45 | 无 |
| 40X | 0.60 | 0.55 | 3.70 | 195 | 45 | 无 |
| 80X | 0.80 | 0.42 | 0.96 | 195 | 45 | 无 |
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