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详细介绍
XV400是一款光谱范围为180nm-430nm的光纤光谱仪。检测器采用滨松线阵背照式CCD， 16-bit A/D采样和75%的量子效率为光谱仪提供高信噪比和大的动态范围。可以广泛应用在理化分析、生物样品、半导体材料检测，光学检测和材料检测等领域。 XV400在0-40度，光谱波长偏移< 0.1nm，具备良好热稳定性，能够应用于定性、定量检测场景。
特点列表
◆ 响应强度大：在检测物质时光谱响应强度大；
◆ 分辨率高：分辨率<1.0nm@600um 光纤；
◆ 良好的热稳定性：光谱波长偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 灵敏度偏差<2%。
规格说明
产品参数 | |
| 项目 | 值 |
| 尺寸 | 95×71×41mm |
| 重量： | ~350g |
| 探测器 | 滨松线阵背照式CCD |
| 波动范围 | 180-430nm |
| 像素 | 2048 *64 有效像元 |
| 光谱分辨率 | <1 nm |
| 信噪比 | 450:1 |
| A/D 采样 | 16bit |
| 暗噪声 | 55 RMS |
| 动态范围 | 1200：1 |
| 积分时间 | 4ms-40 second |
| 连接器 | USB |
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