HL200导电粒子检查显微镜.微分干涉

HL200导电粒子检查显微镜。微分干涉、高倍率、高解析观察、分析、量测，在深圳、广州、南京、上海、北京、苏州、昆山、重庆等多地销售，反应良好，效果佳。带有偏光及微分干涉功能，是观察TFT导电粒子的*佳选择。

光学部件

目 镜：CFI高眼点、大视野

物 镜：ELWD APO LENS

光 学 头：内置多组棱镜组成、偏光镜、滤 光镜、各种调节集成等

分 光：采用分光设置

微分干涉：冰洲石双折射现象

镜片镜片具有*光学技术、高清晰，高透光率，*镀膜技术等特点。

在镜片的高折射率材料、非球面技术、个性化光学设计、光学镀膜等方面处于地位。镜片和镀膜

光学技术的代表。

多层镀膜：60多层。

削 球 面：保证成像质量，不变形、真实。

消 色 差：颜色不失真。