光切法显微镜9J（普通型）-上海彼爱姆光学仪器制造有限公司

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更新时间：2024-06-26 13:16:07浏览次数：360次

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光切法显微镜9J（普通型）

一、用途

9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0～80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

二、技术规格

测量范围不平度平均高度值（um）

表面光洁度级别

所需物镜

总放大倍数

物镜组件

工作距离（mm）

视场（mm）

＞1.0～1.6

＞1.6～6.3

＞6.3～20

＞20～80

8～7

6～5

4～3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

2.5

1、摄影装置放大倍数：约6X

2、测量不平度范围：0.001～0.08mm

3、不平宽度：用测微目镜： 0.0007～2.5mm；用坐标工作台：0.01～13mm

4、仪器重量：约23kg

5、外形尺寸：约180×290×470mm

三、仪器成套性：

序号	名称	单位	数量
1	仪器本体	台	1
2	测微目镜	只	1
3	坐标工作台	件	1
4	V 型块	件	1
5	标准刻尺（连盒）	组	1
6	7 倍物镜	组	1
7	14 倍物镜	组	1
8	30 倍物镜	组	1
9	60 倍物镜	组	1
10	可调变压器220/4～6/5VA	只	1
11	2.1瓦6伏灯泡 (备用件)	只	3
12	产品使用说明书	份	1
13	产品合格证明	份	1
14	产品保修卡	份	1