详细摘要： BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件...
产品型号：BW-4022C所在地：西安市更新时间：2025-03-28 在线留言干燥设备 粉碎设备 混合设备 反应设备 过滤分离设备 过滤材料 灭菌设备 萃取设备 贮存设备 传热设备 锅炉 塔设备 结晶设备 其它制药设备
陕西博微电通科技有限责任公司
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详细摘要： BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件...
产品型号：BW-4022C所在地：西安市更新时间：2025-03-28 在线留言
详细摘要： BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数"合格/不合格"(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各...
产品型号：BW-3010B所在地：西安市更新时间：2025-03-28 在线留言
详细摘要： 可用于各类二管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌电流（IFSM）试验，包括三管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二管的浪涌测试。...
产品型号：BW-UIS-3500所在地：西安市更新时间：2025-03-28 在线留言
详细摘要： 可用于各类二管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌电流（IFSM）试验，包括三管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二管的浪涌测试。...
产品型号：BW-IFSM/ITSM所在地：西安市更新时间：2025-03-28 在线留言
详细摘要： 适用于各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET（支持耗尽型产品）、IGBT 单管、IGBT 模块、IPM 模块、桥堆等进行高温高湿反偏试验试验线路及试...
产品型号：BW-H3TRB-C16所在地：西安市更新时间：2024-10-12 在线留言
详细摘要： BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保...
产品型号：BW-AH-5520所在地：西安市更新时间：2024-10-12 在线留言
详细摘要： BW-4022A 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进...
产品型号：BW-4022A所在地：西安市更新时间：2024-10-12 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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