种子大米外观品质检测仪 米质判定仪 SC-E米质判定仪 SC-E大米外观品质检测仪

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简介：

可用于野外或实验室对种子大米外观形状的分析。主要是分析评价各类种子、麦类、大米（籼米、粳米、籼糯米、粳糯米，特种米、有机米等），以及小米、大小麦、豆类、玉米、芝麻、瓜果、非常细小的花种子，蔬菜种子等。可一次扫描成像就分析出：粒形（直径、长度、宽度、长宽比、面积）、整精米数量、整精米率、大米透明度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、不完善率（黄粒米、未成熟粒、杂质）。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应，能检测各项指标的重量比和粒数比。还可快速进行稻种等的考种计数。广泛适用于种子、品种质量监管和品种选育相关的研究部门，提高工作效率。
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性能优点：

（1）专有的向导学习，使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像，自动计数精度≥99%，监视修正<1%，即达*正确。
（2）适应检测种粒直径0.3～15mm，计数速度为20～300粒/s，每小时zui快分析计数30盘zui多30g重的种子样本。
（3）可裁剪掉污染目标区，能根据种子形态、大小差别，自动剔除杂质等，并导出为EXCEL表以便形成统计分布图。
（4）可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记，可自由选择标记数字/符号，及标记的颜色、大小。
（5）种子图像、检验结果可保存或导出到数据库，并形成WORD报告，满足日常搜索、管理的需要；可存储种子图像及全部统计结果，免除了繁琐的记录工作，避免错误。
（6）保证性能前提下，不仅提供*秀产品，还提供*解决方案，让您满意。

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技术参数：

1.快速形态分析：60秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.1mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02mm），自动获得每粒种子的外观形状参数，以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率（30g样本的测量误差≤±1.0%，重现性误差≤±0.25%）、大米透明度、垩白度、垩白粒率（30g样本的测量误差≤±1.0，重现性误差≤±0.5）、碎米率、不完善粒（黄粒米、未成熟粒、杂质）。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标，可选择区域统计。稻种等的考种计数正确率，经极快速地可视化验证后，可达*正确。
2.可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数与各项分析，并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算出千粒重 等；
3．测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
可以单独进行目标的长度测量
4．数据管理：
数据存储：图像（可保留原图/结果图）和全部分析结果以数据库存储；
智能查询：按日期、编号等自动搜索查询，查询结果以图像和数据库形式显示；
数据报表导出：统计分析结果能以Excel表、Word文档、PDF文档导出，并自动形成总报表输出；
5．仪器规格与配置：
专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪（电脑另配）；

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