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热台显微镜XPN-203系列

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更新时间:2021-08-13 17:03:51浏览次数:233次

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产品简介

XPN-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测,有自动P、I、D调节,及模糊手动调节功能,通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定,对......

详细介绍

一、仪器的用途:

XPN-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测,有自动P、I、D调节,及模糊手动调节功能,通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定,对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据,设有“上、下”限自动报警装置,并可随时检查设定的温度数据,是新一代熔点测温,控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件,本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。

三、技术参数

名称

规格

总放大倍数

40X---630X

无应力消色差物镜

4X/0.1

10X/0.25

25X/0.40

40X/0.65弹簧

63X/0.85弹簧

目镜

10X十字目镜

10X分划目镜

试片

石膏1λ试片

云母1/4λ试片

石英楔子试片

测微尺

0.01mm

滤色片

蓝色

移动尺

移动范围30mm×40mm

镜筒

三目观察

四、系统组成

偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203E): 1.偏光显微镜2.适配镜3.摄像器(CCD)

4.A/D(图像采集) 5.热台6.计算机

偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203Z):1、偏光显微镜2、适配镜3、数码相机(NIKON)

5.热台

五、总放大参考倍数

XPN-203E型:100--1600倍 XPN-203Z型:100--1500倍

熔点仪主要参数

组成

性能

显微精密控温仪

在20倍物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定,30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ±0.3 ℃、记忆点读数

显微加热平台

可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于±0.1
• 起始温度室温
• 工作区加热使用面积至少1X1厘米
• 工作区温度梯度不超过 ±0.1
• 透光区域2mm以上,可调
• 显示温度与实际温度误差不超过 ±0.2
• 热台可以随载物台移动
熔点测定(温度超过100度时,25X的物镜工作距离太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的物镜20X的物镜)

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