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上海比目仪器有限公司
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XPN-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测,有自动P、I、D调节,及模糊手动调节功能,通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定,对......
一、仪器的用途:
XPN-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测,有自动P、I、D调节,及模糊手动调节功能,通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定,对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据,设有“上、下”限自动报警装置,并可随时检查设定的温度数据,是新一代熔点测温,控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件,本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。
三、技术参数
名称 | 规格 |
总放大倍数 | 40X---630X |
无应力消色差物镜 | 4X/0.1 |
10X/0.25 | |
25X/0.40 | |
40X/0.65弹簧 | |
63X/0.85弹簧 | |
目镜 | 10X十字目镜 |
10X分划目镜 | |
试片 | 石膏1λ试片 |
云母1/4λ试片 | |
石英楔子试片 | |
测微尺 | 0.01mm |
滤色片 | 蓝色 |
移动尺 | 移动范围30mm×40mm |
镜筒 | 三目观察 |
四、系统组成
偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203E): 1.偏光显微镜2.适配镜3.摄像器(CCD)
4.A/D(图像采集) 5.热台6.计算机
偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203Z):1、偏光显微镜2、适配镜3、数码相机(NIKON)
5.热台
五、总放大参考倍数
XPN-203E型:100--1600倍 XPN-203Z型:100--1500倍
熔点仪主要参数
组成 | 性能 |
显微精密控温仪 | 在20倍物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定,30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ±0.3 ℃、记忆点读数 |
显微加热平台 | 可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于±0.1 |
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