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广东正业科技有限公司
主营产品： 双盘研磨机;手动取样机;单盘研磨机;凝胶化时间测试仪;精密天平 |
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主营产品： 双盘研磨机;手动取样机;单盘研磨机;凝胶化时间测试仪;精密天平 |
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广东正业专业销售二次元测量仪,二次元影像测量仪,全自动二次元测量仪广东正业专业销售二次元测量仪,二次元影像测量仪,全自动二次元测量仪 简单介绍：广东正业专业销售二次元测量仪,二次元影像测量仪,全自动二次元测量仪 产品型号：广东正业专业销售二次元测量仪,二次元影像测量仪,全自动二次元测量仪 所在地：东莞市 更新时间：2018-05-15 |
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尼康金相显微镜_尼康显微镜仪_LV150尼康金相显微镜-广东正业科技 尼康金相显微镜_尼康显微镜仪_LV150尼康金相显微镜-广东正业科技 简单介绍：尼康金相显微镜_尼康显微镜仪_LV150尼康金相显微镜-广东正业科技 产品型号：尼康金相显微镜_尼康显微镜仪_LV150尼康金相显微镜-广东正业科技 所在地：东莞市 更新时间：2018-05-15 |
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电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪 电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪 简单介绍：电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪 产品型号：电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪 所在地：东莞市 更新时间：2018-05-15 |
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凝胶化时间测试仪 简单介绍：凝胶化时间测试仪是用于覆铜板和线路行业测试半固化片及树脂的凝胶化时间的仪器设备 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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单盘研磨机 简单介绍：ASIDA-YM12 单盘研磨机用于控制与检验PCB质量所需的金相分析系统微切片研磨、抛光，使微切片晶亮透明，更易于检验分析。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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手动取样机 简单介绍：手动取样机采用优质配件制作。该设备切片比较整齐，广泛应用在PCB行业金相分析系统制作切片。适合板厚0.5~2.5mm 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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凝胶化时间测试仪 简单介绍： 凝胶化时间测试仪是用于覆铜板和线路行业测试半固化片及树脂的凝胶化时间的仪器设备 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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双盘研磨机 简单介绍：双盘研磨机采用*进技术及零配件，操作简便、舒适。该仪器主要用在PCB行业，用于控制与检验PCB质量所需的金相分析系统微切片研磨、抛光，使微切片晶亮透明，更易于检验分析。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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精密天平 简单介绍：精密天平是集精确、稳定、多功能与自动化于一体的电子天平，可以满足所有实验室质量分析要求。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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X-Strata980痕量元素分析仪 简单介绍：基于多年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，CMI960引进全新的设计,在测量仪器方面更加专业,更加精确. 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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X-Strata980(X荧光镀层测厚仪) 简单介绍：电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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离子污染测试仪 ASIDA-LZ11 简单介绍：ASIDA-LZ11子污染测试仪广泛用于元器件或电路板生产企业及电子电气设备生产、组装行业 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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MA100金相显微镜 简单介绍：MA100金相显微镜用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。 产品型号：MA100 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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LV150金相显微镜 简单介绍：LV150金相显微镜用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。 产品型号：LV150 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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LV100D金相显微镜 简单介绍：LV100D金相显微镜用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。 产品型号：LV100D 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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金相显微镜 JX42A 简单介绍：JX42A金相显微镜用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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金相显微镜 JX32A 简单介绍：JX32A金相显微镜用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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麦拉 简单介绍：麦拉特性：燃点：497oC；方法：UL94 V-2。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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外观检查机WG11A 简单介绍：WG11A外观检查机自动上板，清洁，图形扫描，判断和分板，卸料功能。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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能谱仪EDS 简单介绍： 能谱仪EDS在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。 产品型号： 所在地： 更新时间：2018-05-15 |
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