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PHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针 详细摘要： PHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针提供高性能的俄歇（AES）频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维...
产品型号： 所在地： 更新时间：2021-08-01 参考价： 面议 在线留言 -
赛默飞 MICROLAB 350场发射俄歇电子谱仪 详细摘要： 赛默飞 MICROLAB 350场发射俄歇电子谱仪是一款高性能的，具有高灵敏度和高能量分辨率扫描俄歇电子能谱仪（AES）。 SEM分辨率7纳米和扫描俄歇映射（S...
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PHI Quantera II X射线光电子能谱仪 详细摘要： PHI Quantera II X射线光电子能谱仪是Ulvac-Phi公司以在业界获得非常成绩的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研...
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赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪 详细摘要： 赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10nm厚度）的元素种类、化学价...
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日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪 详细摘要： 日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子...
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布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜 详细摘要： 布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜的设计系统能从上到下产生低漂移低偏离数据，可以在几分钟内完成且达到可发表的数据标准，而不再需要几小时，价格也...
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蔡司 SIGMA高分辨率场发射扫描电子显微镜 详细摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率场发射扫描电子显微镜采用成熟的GEMINI光学系统设计，分辨率超过0.8nm，为您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平台。Sigma500...
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蔡司 Gemini SEM场发射扫描电子显微镜 详细摘要： 蔡司 Gemini SEM场发射扫描电子显微镜二十多年来，基于日渐完善的Gemini技术，GeminiSEM具有完整高效的检测系统、*的分辨率以及简便的操作方式...
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FEI Inspect系列 扫描电子显微镜 详细摘要： FEI Inspect系列 扫描电子显微镜满足传统高分辨率样品研究所需的一切，简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需...
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蔡司 Stemi 508 研究级体视显微镜 详细摘要： 蔡司 Stemi 508 研究级体视显微镜是全新升级的一款高品质研究级立体体视显微镜。具有更高的放大倍数、更大的图像景深，更加广阔的视野范围获得更多的细节信息。...
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蔡司 Stemi 305 高效实用型体视显微镜 详细摘要： 蔡司 Stemi 305 高效实用型体视显微镜是推出的一款高效实用型体视显微镜。这款显微镜操作简便，配有长效反射和透射 LED 光源及照相功能。可使用常规三目观...
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蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相显微镜 详细摘要： 蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相显微镜是全新一代研究级倒置是全新一代研究级倒置材料显微镜Axio Vert.A1开创了研究级倒置式显微镜产品，完善...
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FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜 详细摘要： FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜该产品是世界上*款可以对有机材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有电荷积累的样品和/或污染性样品进...
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FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜 详细摘要： FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜是我们的环境 TEM 平台，设计用来观测功能性纳米材料及其随着时间的推移对气体和温度刺激的响应。凭借*的差动泵...
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布鲁克 Dimension FastScan 扫描探针显微镜 详细摘要： 布鲁克 Dimension FastScan 扫描探针显微镜在不损失Dimensionamp;#174; Iconamp;#174;超高的分辨率和的仪器性能前提...
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日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪 详细摘要： 日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开...
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PHI 5000 Versaprobe II X射线光电子能谱仪 详细摘要： PHI 5000 Versaprobe II X射线光电子能谱仪是材料科学和发展的领域中Z广泛使用的表面分析技术。其原理是利用X射线束（一般会使铝阳极或镁阳极）...
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