详细摘要： Ilion II 697 Gatan氩离子抛光系统是一个用于样品的截面制备及平面抛光的桌面型制样设备，以便样品在SEM及其它设备上进行检测分析。可利用Ilion...

详细摘要： LSM800白光干涉共聚焦显微镜以多项创新的光学设计，成为材料学领域非接触式三维光学测量的设备，它提供了高精度直径可调针孔，高灵敏度光电倍增管，小角度设计主分光...

详细摘要： WAS5焊缝显微镜采用LED发光组、电动变倍和电动调焦系统、自动跟踪对焦、具有实时图像处理功能。镜体可正负倾斜90度拍照，特殊样品，镜体可手持拍照同时可对测图像...

详细摘要： SteREO Discovery.V8体式显微镜研究级体式显微镜SteREO Discovery.V8是蔡司公司显微镜的成功*，在各领域的应用中获得了客户的*的...

详细摘要： SteREO Discovery.V20蔡司体视显微镜设计理念： 人机工程学原理, 模块化设计和开放式结构，保留了所有选择项，便于日后的升级和功能增强。

详细摘要： Axio Observer 3m倒置*金相显微镜 采用世界上优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供锐利的图像。

详细摘要： Axio Lab.A1 mat正立*金相显微镜采用Push&Click技术的4位功能模块盒 ，更加轻松容易的操作：使用Push&Click装置方便地在不同观察方...

详细摘要： Axio Imager A2m正立*金相显微镜采用世界上优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供锐利的图像。

详细摘要： SOLARUS （950）等离子清洗仪全新*等离子体清洗系统，去除碳氢化合物对TEM和SEM样品台或样品的污染。Solarus是新一代等离子系统，其改造的新概念...

详细摘要： MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台扫描电镜中的材料允许我们在微结构层级进行动态的机械特性研究。当同时装备EBSD设备，可以通过对晶体的结构的分...

详细摘要： MICROTEST系列原位动态拉伸试验台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。在扫描电镜上进行材料试验，可以...

详细摘要： O-INSPECT复合式三坐标测量仪将光学影像测量与传统接触式测量相结合，*拓展了传统测量机的局限性。蔡司的O-INSPECT复合式测量机拥有四合一多功能复合式...

详细摘要： BRIGHT KAS-2000F 离子溅射仪是布莱特公司针对SEM/TEM开发出的产品，它可以对不导电样品进行喷镀，使导电性不理想的样品也能够在SEM/TEM中...

详细摘要： Monarc 阴极荧光系统重新定义了 SEM （扫描电子显微镜）上阴极荧光 （CL） 表征的能力。通过突破性的光路设计，Monarc 具有显著增加的灵敏度和谱分...

详细摘要： MAS600宏观影像仪采用白光 LED发光组，长寿命冷光源照明，确保样品不会被热破坏。

详细摘要： 蔡司显微镜多媒体互动教学系统是一款性价比诱人的智能成像系统。借助无线网络，使用蔡司研发的成像应用软件Matscope，实现多台显微镜的连接。图像的拍摄、分析到报...

详细摘要： Axio Zoom V16全自动清洁度分析系统洁度分析系统清洁度标准，从而全面地应用于航空和汽车行业。清洁度是指零件、总成和整机特定部位被杂质污染的程度。用规定...

详细摘要： Axio Scope A1 pol正立偏光显微镜采用世界上优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，系统进行了充分的无应力处理，为用户的偏光观察...

详细摘要： Axio Imager M2m*金相显微镜光 源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强色温自动可调。

详细摘要： Axio Lab.A1 pol*偏光显微镜采用世界上优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，系统进行了充分的无应力处理，为用户的偏光观察提供锐...