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上海奇宜仪器设备有限公司>>技术文章>>CCIT阳性样品制备(CCIT激光打孔)-上海奇宜仪器

CCIT阳性样品制备(CCIT激光打孔)-上海奇宜仪器

发布时间:2023/9/7
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        CCIT阳性样品制备是通过在包装样品上制备已知缺陷的阳性样品,用于CCIT方法验证,以确认当前CCIT方法可靠性、适用性及灵敏度的目的。

                                        image.png

        具备密封性阳性样品制备计量验证能力的技术团队,能提供符合药学要求的阳性样品制备服务、计量服务,保障提供的研究用样品符合药学的要求和CNAS要求。公司提供的各类型密封性阳性样品,均可送,目前中国认。

 

       激光打孔这是目前应用最多,CCIT阳性样品制备方法,可以在包材任意部位激光打孔(最小2μm),并且每一支阳性样品均具有反应真实漏率的校准证书。

 

包材类型:西林瓶,安瓿瓶,输液袋,预充针,卡式瓶,塑料瓶,直立袋,预灌封等。

 

打孔位置:瓶颈,瓶身,瓶底等位置。

 

打孔孔径:2μm~100μm

 

常规泄露级别:2μm、3μm、5μm、8μm、10μm、15μm、20μm


适用范围:色水法、微生物浸入法、质量提取法、真空衰减法、高压放电法、压力衰减法、激光法等容器密封完整性试验方法的方法验证;密封检漏设备的校准及灵敏度验收确认等。


应用领域:医疗卫生,生物产业

 

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