显微熔点仪

X-4 显微熔点仪

X-4 显微熔点仪产品介绍

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

X-4 技术参数
熔点测量范围：室温至320℃ 
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
                     ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时） 
温度显示zui小值： 1℃

熔点观察方式 单目显微镜 

光学放大倍数 40× 

我公司郑重承诺：

1.凡我公司出售的所有产品保修期为一年，在保修期内产品市区免费上门维修（人为因素或不可抗拒的自然现象所引起的故障或破坏除外），省外用户视情况，协商解决。
2. 在接到报修通知后，一个小时内作出回应，二十四小时内定出维修解决方案，七个工作日解决问题。
3. 用户可以通过售后咨询有关技术问题，并得到明确的解决方案。

4. 用户在正常使用中出现性能故障时，本公司承诺以上保修服务。除此以外，国家适用法律法规另有明确规定的，本公司将遵照相关法律法规执行。
5. 在保修期内，以下情况将实行有偿维修服务：
（1）由于人为或不可抗拒的自然现象而发生的损坏;
（2）由于操作不当而造成的故障或损坏;
（3）由于对产品的改造、分解、组装而发生的故障或损坏。

禾普(HEB)愿与你携手打造精细的实验仪器产品。