XJP-146JB工业金相显微镜可用于金相、矿物、晶体、微电子等方面进行观察与分析研究等，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门的较好选择。采用了反射和透射两种照明形式，并配有落射偏光装置。在反射光照明下可以进行明场和偏光观察，又可在透射光照明下作明场观察。稳定、高品质的光学系统满足您高要求的成像质量，宽阔的机身更体现整体刚性，T形的外观设计为您提供了稳定的基座。人性化的设计，简便的操作将您从繁重的工作压力中解放出来，从而让您全部的精力投入实验之中。
XJP-146JB工业金相显微镜技术参数
技术规格 | 型号 | |||
XJP-146JB | XJP-146JBT | |||
观察头 | 30度铰链式双目头（55mm-75mm） | ● | ||
30度铰链式三目头（55mm-75mm） | ● | |||
目镜 | WF10×/22mm | ● | ● | |
WF10×/20mm带0.1mm十字分划板 | ● | ● | ||
转换器 | 四孔转换器 | ● | ● | |
物镜 | 无限远平场金相物镜 | 4×/0.1W.D.29.4mm | ● | ● |
10×/0.25W.D.16mm | ● | ● | ||
20×/0.4W.D.10.6mm | ● | ● | ||
40×/0.6W.D.5.4mm | ● | ● | ||
平台 | 双层移动平台 | ● | ● | |
平台尺寸:180mm×1500mm | ||||
移动范围：75mm×50mm | ||||
调焦 | 粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构,微动格值0.002mm | ● | ● | |
聚光镜 | N.A.1.25阿贝聚光镜带可变光栏和滤色片 | ● | ● | |
光源 | 落射柯勒照明，带孔径可变光栏和视场可变光栏 | ● | ● | |
透射照明12V/30W.AC85V230V亮度可调节 | ● | ● | ||
偏光装置 | 检偏镜可360度转动，起偏镜检偏镜均可移出光路 | ● | ● | |
滤色片 | 插板式滤色片（绿、蓝、中性） | ● | ● | |
检测工具 | 0.01mm测微尺 | ● | ● | |
可供附件 | 二维测量软件 | |||
专业金相图像分析软件 | ||||
测微目镜 | ||||
130万、200万、300万、500万像素CMOS电子目镜 | ||||
摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75× | ||||
无限远平场金相物镜：50×/0.55W.D.5.1mm，80×/0.75W.D.4mm、100×/0.8W.D.3mm | ||||
压平机 | ||||
彩色1/3寸CCD 520条线 | ||||
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