一、技术特点:
1.多达六路探头可同时监控,每路自由设置,既能独立运行,也可联合工作。
2.每路二组继电器输出,到达设置厚度自动关闭挡板/蒸发源;
3.全触摸屏操作显示,简单易用;
4.提供RS232/RS485接口,MODBUS RTU标准协议,多波特率可选,并配有控制软件。
二、应用范围:
适用于普通蒸发、电子束蒸发、磁控溅射、离子镀等真空镀膜厚度测量,特别适合多蒸发源镀膜机和多腔室镀膜机进行膜层监控;
膜厚监控仪的控制和显示均通过触摸屏实现,使您能获取完整的沉积数据,包括速率、厚度和镀膜时间等。
三、主要参数:
| CY-FTM-M4/M6多通道监控仪 |
晶振频率 | 6MHz(可选2.5M 3M 5M 9M晶体) |
显示方式 | 5”彩色触屏+1路数码管显示速率和实厚 |
操作方式 | 触摸屏 |
厚度显示范围 | 0-99μ9999Å |
厚度实际分辨率 | 0.1Å(铝) |
厚度显示分辨率 | 1Å |
速率范围 | 0-999.9Å |
速率显示分辨率 | 0.1Å/s |
镀膜层数 | 99层 |
探头输入 | 4路/6路(可同时工作) |
工具因子 | 0.01-99.99 |
材料存储 | 257+自定义10种 |
通 讯 | RS232/RS485 MODBUS RTU协议 |
挡板/源控制 | 每路2组触点,到达厚度关挡板/蒸发源 |
镀膜显示 | 数值/速率曲线 |
镀膜巡回次数 | 0-99 |
机箱尺寸 | 480×250×89mm(2U 19”机箱) |
四、特殊功能:
(1)任意设置每一路的工作状态,具有人工停止镀膜功能;
(2)可显示镀膜层、材料和使用晶体振荡频率百分比;
(3)显示镀膜结束后的监测厚度、晶振频率、材料和层次。