Nanosurf LensAFM镜头式原子力显微镜
扩展您光学显微镜的分辨率
Nanosurf LensAFM 是一个当光学显微镜和轮廓仪达到其分辨率极*可以帮您继续探究的原子力显微镜。它可以像常规物镜一样安装，从而无缝扩展了这些光学仪器的分辨率和测量能力。 LensAFM不仅提供3D表面形貌信息，还可用于分析被测样品的各种物理特性。
用你常用的仪器进行AFM测量
在越来越多的情境下，研究人员希望结合光学和原子力显微镜技术。光学显微镜的易用性，筛选能力和（无）样品制备要求几乎是的。然而，有时目标放大100倍的是不够的，您想更仔细地观察一些超出仪器分辨率的微小特征。在常规实验室环境中，您需要两个专用仪器，并且有必要将样品从一个设备转移到另一个设备。 使用LensAFM则不必如此。凭借其极小的设计和巧妙的安装机制，您需要做的就是旋转光学显微镜或轮廓仪上的转盘并运行扫描。
LensAFM将地集成到您的工作流程中：将其安装在光学显微镜的转盘上 - 就像常规物镜一样 - 您可以使用正常物镜选样品以找到感兴趣的区域。随后，使用集成的8倍光学镜头可以再次定位该区域，然后您可以执行AFM测量以获得更高分辨率的3D信息：以您惯有的方式工作，分辨率和功能却得到极大提升。
LensAFM具有快速卸载机制，可轻松地将LensAFM安装到转台和从转台卸下。可调安装保证您可以以高于10μm的精度更换它。芯片安装座上的对准凹槽还可确保下一个微悬臂的位于相同位置的4μm范围内，即使在微悬臂更换后也能再次回到相同的特征值。由于这些对准凹槽，您甚至不需要在微悬臂上执行激光对准，从而节省了额外的时间。
LensAFM 为您的光学显微镜带来了所有这些测量功能，无需重新思考一整个新的工作流程。观看视频，了解提升您的显微能力是多么容易。
提升光学显微镜的能力
由于光学显微镜的分辨率受光的波长限制，因此光学系统在可实现的分辨率上有一个极限。在越来越多的应用中，就需要光学和原子力显微镜的组合。此外，AFM可以无障碍表征透明样品或其他难以光学评估的样品。且不仅仅是样品的形貌：AFM还允许获得其他材料特性的知识，例如，表面粗糙度，硬度变化，磁性或电导/电阻。
LensAFM 成像模式
以下描述为仪器所具备的模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览产品手册或直接联系我们
标准成像模式
静态力模式
动态力模式(轻敲模式)
相位成像模式
电性能
导电探针 AFM (C-AFM)
压电力显微 (PFM)
静电力显微 (EFM)
开尔文探针力显微(KPFM)
扫描扩散电阻显微 (SSRM)
磁性能
磁力显微
机械性能
力调制
力谱
力映射
其他测量模式
刻蚀和纳米操纵
LensAFM 应用示例
LensAFM /光学平台组合提供了一个互补的成像系统，极大地扩展了这些仪器单独的分辨率和测量能力，如下面的三张图所示
相同区域由LensAFM的内置8倍物镜观察到的光学视图。 AFM微悬臂在光学图像中可见，允许在测量之前容易地定位样品。
由LensAFM记录的同样缺陷的AFM形貌。该区域的三维数据清楚地识别出该缺陷为涂层上的一个洞，部分被碎屑填充。
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